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mos管器件與應(yīng)用-mos管器件的結(jié)構(gòu)、符號等及mos管具體應(yīng)用方案-KIA MOS管

信息來源:本站 日期:2018-10-13 

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mos管器件與應(yīng)用
mos管器件簡稱

MOS場效應(yīng)管也被稱為MOSFET,即Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor(金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)管)的縮寫。它一般有耗盡型和增強(qiáng)型兩種我們知道一般三極管是由輸入的電流控制輸出的電流。但對于場效應(yīng)管,其輸出電流是由輸入的電壓(或稱場電壓)控制,可以認(rèn)為輸入電流極小或沒有輸入電流,這使得該器件有很高的輸入阻抗,同時(shí)這也是我們稱之為場效應(yīng)管的原因。

MOS管器件的構(gòu)造及符號

MOS晶體管的符號示于圖1.3。(KIA)MOS晶體管是四端器件:源極(S)、柵極(G)、漏極(D),以及基底端(B)?;锥嗽贜MOS晶體管中通常銜接電路的負(fù)端電源電壓Vss,在PMOS晶體管中銜接電路的正端電源電壓VDD。電路圖中通常省略基底端(B)而采用圖1.4所示的符號。兩者的關(guān)系如圖1.5所示。

mos管器件與應(yīng)用

圖1.6是NMOS晶體管的構(gòu)造表示圖。P型硅襯底上構(gòu)成兩個(gè)n+區(qū)域,一個(gè)是源區(qū),另一個(gè)是漏區(qū)。柵極是由摻入高濃度雜質(zhì)的低電阻多晶硅(poly-crystal-linc silicon)構(gòu)成。

在柵極與硅襯底間構(gòu)成一層氧化膜( Si02),叫做柵氧化膜。P型硅襯底也叫做基板。

NMOS的基底銜接VSS負(fù)端電源電壓。例如,在正的電源電壓VDD為3V,負(fù)的電源電壓VSS為OV的電路中工作時(shí),基底銜接OV(圖1.7)。

mos管器件與應(yīng)用

畫電路圖時(shí),NMOS晶體管是漏極在上、源極在下,而PMOS晶體管是源極在上、漏極在下。圖1.8示出電流活動(dòng)的方向和電極間的電壓。柵極—源極間電壓用VGS(PMOS晶體管中用VSG)表示,漏極—源極間電壓用VDS(PMOS晶體管中VSD)表示。

mos管器件與應(yīng)用

mos管器件電路符號

MOS管是金屬(metal)—氧化物(oxid)—半導(dǎo)體(semiconductor)場效應(yīng)晶體管,或者稱是金屬—絕緣體(insulator)—半導(dǎo)體。MOS管的source和drain是可以對調(diào)的,他們都是在P型backgate中形成的N型區(qū)。在多數(shù)情況下,這個(gè)兩個(gè)區(qū)是一樣的,即使兩端對調(diào)也不會(huì)影響器件的性能。這樣的器件被認(rèn)為是對稱的。

(一)MOS管的使用優(yōu)勢

MOS管是電壓控制元件,而晶體管是電流控制元件。在只允許從信號源取較少電流的情況下,應(yīng)選用MOS管;而在信號電壓較低,又允許從信號源取較多電流的條件下,應(yīng)選用晶體管。

MOS管是利用多數(shù)載流子導(dǎo)電,所以稱之為單極型器件,而晶體管是即有多數(shù)載流子,也利用少數(shù)載流子導(dǎo)電,被稱之為雙極型器件。有些MOS管的源極和漏極可以互換使用,柵壓也可正可負(fù),靈活性比晶體管好。MOS管能在很小電流和很低電壓的條件下工作,而且它的制造工藝可以很方便地把很多MOS管集成在一塊硅片上,因此MOS管在大規(guī)模集成電路中得到了廣泛的應(yīng)用。

(二)電路符號

常用于MOSFET的電路符號有很多種變化,最常見的設(shè)計(jì)是以一條直線代表通道,兩條和通道垂直的線代表源極與漏極,左方和通道平行而且較短的線代表柵極,如下圖所示。有時(shí)也會(huì)將代表通道的直線以破折線代替,以區(qū)分增強(qiáng)型MOSFET(enhancement mode MOSFET)或是耗盡型MOSFET(depletion mode MOSFET)。

由于集成電路芯片上的MOSFET為四端元件,所以除了柵極、源極、漏極外,尚有一基極(Bulk或是Body)。MOSFET電路符號中,從通道往右延伸的箭號方向則可表示此元件為N型或是P型的MOSFET。箭頭方向永遠(yuǎn)從P端指向N端,所以箭頭從通道指向基極端的為P型的MOSFET,或簡稱PMOS(代表此元件的通道為P型);反之若箭頭從基極指向通道,則代表基極為P型,而通道為N型,此元件為N型的MOSFET,簡稱NMOS。在一般分布式MOSFET元件(discrete device)中,通常把基極和源極接在一起,故分布式MOSFET通常為三端元件。而在集成電路中的MOSFET通常因?yàn)槭褂猛粋€(gè)基極(common bulk),所以不標(biāo)示出基極的極性,而在PMOS的柵極端多加一個(gè)圓圈以示區(qū)別。

mos管器件與應(yīng)用

mos管器件工作原理

(以N溝道增強(qiáng)型mos場效應(yīng)管)它是利用VGS來控制“感應(yīng)電荷”的多少,以改變由這些“感應(yīng)電荷”形成的導(dǎo)電溝道的狀況,然后達(dá)到控制漏極電流的目的。在制造管子時(shí),通過工藝使絕緣層中出現(xiàn)大量正離子,故在交界面的另一側(cè)能感應(yīng)出較多的負(fù)電荷,這些負(fù)電荷把高滲雜質(zhì)的N區(qū)接通,形成了導(dǎo)電溝道,即使在VGS=0時(shí)也有較大的漏極電流ID。當(dāng)柵極電壓改變時(shí),溝道內(nèi)被感應(yīng)的電荷量也改變,導(dǎo)電溝道的寬窄也隨之而變,因而漏極電流ID隨著柵極電壓的變化而變化。

mos管開關(guān)性能

影響開關(guān)性能的參數(shù)有很多,但最重要的是柵極/漏極、柵極/ 源極及漏極/源極電容。這些電容會(huì)在器件中產(chǎn)生開關(guān)損耗,因?yàn)樵诿看伍_關(guān)時(shí)都要對它們充電。MOS管的開關(guān)速度因此被降低,器件效率也下降。為計(jì)算開關(guān)過 程中器件的總損耗,要計(jì)算開通過程中的損耗(Eon)和關(guān)閉過程中的損耗(Eoff)。MOSFET開關(guān)的總功率可用如下方程表達(dá):Psw= (Eon+Eoff)×開關(guān)頻率。

而柵極電荷(Qgd)對開關(guān)性能的影響最大。場效應(yīng)管的名字也來源于它的輸入端(稱為gate)通過投影一個(gè)電場在一個(gè)絕緣層上來影響流過晶體管的電流。事實(shí)上沒有電流流過這個(gè)絕緣體,所以FET管的GATE電流非常小。最普通的FET用一薄層二氧化硅來作為GATE極下的絕緣體。這種晶體管稱為金屬氧化物半導(dǎo)體(MOS)晶體管,或,金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)管(MOSFET)。因?yàn)镸OS管更小更省電,所以他們已經(jīng)在很多應(yīng)用場合取代了雙極型晶體管。

mos管導(dǎo)通

MOS管具有很低的導(dǎo)通電阻,消耗能量較低,在目前流行的高效DC-DC芯片中多采用MOS管作為功率開關(guān)。但是由于MOS管的寄生電容大,一般情況下NMOS開關(guān)管的柵極電容高達(dá)幾十皮法。這對于設(shè)計(jì)高工作頻率DC-DC轉(zhuǎn)換器開關(guān)管驅(qū)動(dòng)電路的設(shè)計(jì)提出了更高的要求。在低電壓ULSI設(shè)計(jì)中有多種CMOS、BiCMOS采用自舉升壓結(jié)構(gòu)的邏輯電路和作為大容性負(fù)載的驅(qū)動(dòng)電路。這些電路能夠在低于1V電壓供電條件下正常工作,并且能夠在負(fù)載電容1~2pF的條件下工作頻率能夠達(dá)到幾十兆甚至上百兆赫茲。本文正是采用了自舉升壓電路,設(shè)計(jì)了一種具有大負(fù)載電容驅(qū)動(dòng)能力的,適合于低電壓、高開關(guān)頻率升壓型DC-DC轉(zhuǎn)換器的驅(qū)動(dòng)電路。電路基于Samsung AHP615 BiCMOS工藝設(shè)計(jì)并經(jīng)過Hspice仿真驗(yàn)證,在供電電壓1.5V ,負(fù)載電容為60pF時(shí),工作頻率能夠達(dá)到5MHz以上。

mos管注意事項(xiàng)

1、MOS部件出廠時(shí)一般裝在黑色的導(dǎo)電多氣孔材料袋中,切勿自行輕易拿個(gè)分子化合物塑料袋裝。

2、抽取MOS管部件不可以在分子化合物塑料板上滑動(dòng),應(yīng)用金屬盤來盛放待用部件。

3、燒焊用的電烙鐵務(wù)必令人滿意接地。

4、在燒焊前應(yīng)把電路板的電源線與地線短接,待MOS部件燒焊完后再分開。

5、MOS部件各管腳的燒焊順著次序是漏極、源極、柵極。拆機(jī)時(shí)順著次序相反。

6、在準(zhǔn)許的條件下,MOS場效應(yīng)管的柵極最好接入盡力照顧二極管。在檢查修理電路時(shí)應(yīng)注意調(diào)查證明原有的盡力照顧二極管是否毀壞。

7、最好是帶防靜電手套兒或穿上防靜電的衣裳再去接觸場效應(yīng)管。

8、選管時(shí),要注意實(shí)際電路中各極電流電壓的數(shù)字都不可以超過規(guī)格書中的定額值。

mos失效原因

1)雪崩失效(電壓失效),也就是我們常說的漏源間的BVdss電壓超過MOSFET的額定電壓,并且超過達(dá)到了一定的能力從而導(dǎo)致MOSFET失效。

2)SOA失效(電流失效),既超出MOSFET安全工作區(qū)引起失效,分為Id超出器件規(guī)格失效以及Id過大,損耗過高器件長時(shí)間熱積累而導(dǎo)致的失效。

3)體二極管失效:在橋式、LLC等有用到體二極管進(jìn)行續(xù)流的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)中,由于體二極管遭受破壞而導(dǎo)致的失效。

4)諧振失效:在并聯(lián)使用的過程中,柵極及電路寄生參數(shù)導(dǎo)致震蕩引起的失效。

5)靜電失效:在秋冬季節(jié),由于人體及設(shè)備靜電而導(dǎo)致的器件失效。

6)柵極電壓失效:由于柵極遭受異常電壓尖峰,而導(dǎo)致柵極柵氧層失效。

mos管器件的三個(gè)極

1.判斷柵極G

MOS驅(qū)動(dòng)器主要起波形整形和加強(qiáng)驅(qū)動(dòng)的作用:假如MOS管的G信號波形不夠陡峭,在點(diǎn)評切換階段會(huì)造成大量電能損耗其副作用是降低電路轉(zhuǎn)換效率,MOS管發(fā)燒嚴(yán)峻,易熱損壞MOS管GS間存在一定電容,假如G信號驅(qū)動(dòng)能力不夠,將嚴(yán)峻影響波形跳變的時(shí)間.

將G-S極短路,選擇萬用表的R×1檔,黑表筆接S極,紅表筆接D極,阻值應(yīng)為幾歐至十幾歐。若發(fā)現(xiàn)某腳與其字兩腳的電阻均呈無限大,并且交換表筆后仍為無限大,則證實(shí)此腳為G極,由于它和另外兩個(gè)管腳是絕緣的。

2.判斷源極S、漏極D

將萬用表撥至R×1k檔分別丈量三個(gè)管腳之間的電阻。用交換表筆法測兩次電阻,其中電阻值較低(一般為幾千歐至十幾千歐)的一次為正向電阻,此時(shí)黑表筆的是S極,紅表筆接D極。因?yàn)闇y試前提不同,測出的RDS(on)值比手冊中給出的典型值要高一些。

3.丈量漏-源通態(tài)電阻RDS(on)

在源-漏之間有一個(gè)PN結(jié),因此根據(jù)PN結(jié)正、反向電阻存在差異,可識別S極與D極。例如用500型萬用表R×1檔實(shí)測一只IRFPC50型VMOS管,RDS(on)=3.2W,大于0.58W(典型值)。

mos管器件與應(yīng)用

mos管器件與應(yīng)用
電動(dòng)車防盜報(bào)警系統(tǒng)-MOS管型號

由于電動(dòng)車的廣泛使用,而且電動(dòng)車普遍隨便停在路邊,車身比較輕便,即使熄火也完全可以搬離?,F(xiàn)場抓獲難。當(dāng)人離開車后通常的喇叭報(bào)警無法及時(shí)傳達(dá)到車主。警報(bào)聲響,周圍的人也不太關(guān)注,現(xiàn)場很難抓住盜車者。被盜報(bào)案難。由于電動(dòng)車沒有登記信息,特征不明顯不易辨識,被盜后很多人便不去報(bào)案。打擊取證難。電動(dòng)車被盜后,嫌疑人多采取異地銷贓或“化整為零”的辦法,造成取證困難。因此電動(dòng)車防盜報(bào)警系統(tǒng)開始推而廣之。

在電動(dòng)車防盜報(bào)警系統(tǒng)中會(huì)用到MOS管,現(xiàn)在就介紹一下本公司在電動(dòng)車防盜報(bào)警系統(tǒng)使用到的MOS管,在防盜報(bào)警器中,KIA設(shè)計(jì)生產(chǎn)的P溝道MOS管器件具有更高耐壓,更足的余量,內(nèi)阻更是同等更低給產(chǎn)品的應(yīng)用提供更穩(wěn)定的保障。

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